有載開關(guān)測試儀主要特點(diǎn)

1、高精準(zhǔn)度測量：有載分接開關(guān)測試儀設(shè)計(jì)*中華人民共和國電力行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)之高電壓測試設(shè)備，通用技術(shù)條件DL/T846、8-2004，采用高速ARM處理器和6通道高分辨率同步A/D轉(zhuǎn)換器，四線電阻測量方式，消除引線電阻，實(shí)現(xiàn)了高精度的標(biāo)準(zhǔn)測量。

2、光線示波功能：分三通道可同時(shí)記錄A、B、C三相，儀器可自動捕捉和顯示過渡過程中過渡電阻及時(shí)間跳變的過程。能在復(fù)雜的環(huán)境下正常工作，在精度和智能化方面上遠(yuǎn)比光線示波器強(qiáng)。

3、綜合測試能力：在一臺儀器內(nèi)可實(shí)現(xiàn)對有載分接開關(guān)各種參數(shù)的全面測量。如開關(guān)選擇、切換全過程中有無開斷點(diǎn)、過渡波形、過渡時(shí)間、過渡電阻、三相同期性等。還可進(jìn)一步詳細(xì)分析波形中的各時(shí)間段的時(shí)間及阻值。

4、人機(jī)控制完善：選用320×240（QVGA）高分辨率顯示器，在高速微處理器的驅(qū)動下，實(shí)現(xiàn)了完善的人-機(jī)界面，全漢字提示，高速打印，輸出結(jié)果直觀快捷。內(nèi)置幫助菜單，基本上可使操作者不看說明書的條件下實(shí)現(xiàn)操作。

5、USB貯存管理：儀器內(nèi)部可存儲100條測試記錄。還可以連接U盤進(jìn)行數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)存，文件系統(tǒng)與標(biāo)準(zhǔn)PC*兼容。

有載開關(guān)測試儀技術(shù)指標(biāo)

符合DL/T846.8-2004標(biāo)準(zhǔn)

1、三路獨(dú)立測試電源，輸出電流I≥1A；

2、儀器采樣率10KHZ；

3、單次波形zui大存儲時(shí)間268.8毫秒；

4、過渡電阻測量范圍：0.1-200Ω；

5、電阻測量精度：0.1～1 Δ R≤0.1Ω; 1Ω～200Ω(（不含1Ω）ΔR≤±1%。

6、時(shí)間測量精度：ΔT≤0.1mS；

7、顯示器：320*240；

8、處理部分：高速32位微處理器，儀器能保存100條數(shù)據(jù)；`

9、高速12位6通道同步A/D轉(zhuǎn)換器，zui高采樣率可達(dá)250KHZ；

10、電源：220V±10%，功率：200W。

11、主機(jī)尺寸：380mm×262mm×120mm。

相關(guān)說明

1、在實(shí)際測量時(shí)所測波形往往比理論波形差，尤其在有繞組測量時(shí)，這是因?yàn)樵跍y量時(shí)變壓器繞組的電感、電容參數(shù)造成的振蕩信號，以及分接開關(guān)的機(jī)械振動，使所測波形呈現(xiàn)出一些波動，這種情況在實(shí)際測試時(shí)是無法避免的。有些新開關(guān)由于開關(guān)接觸點(diǎn)上保護(hù)油膜在低電壓下呈顯現(xiàn)絕緣性；以及使用年限較長，開關(guān)接觸點(diǎn)有氧化現(xiàn)象的開關(guān)，在測試時(shí)波形可能，這也屬正?，F(xiàn)象?？梢栽谠摍n上多切換幾次開關(guān)，使氧化層變薄，增加接觸面積，再用儀器進(jìn)行測試，可能會避免這種現(xiàn)象。

2、還有一種現(xiàn)象就是超量程測試，如測試開關(guān)的過渡電阻大于9Ω，而選量程為9Ω時(shí)進(jìn)行測量，結(jié)果會出現(xiàn)如圖二十一所示的波形。 這時(shí)光標(biāo)1所指示處的過渡電阻有可能正常，光標(biāo)2所指示處的過渡電阻顯示為50.0Ω，這是由于超量程所致，只需把量程改為30Ω再進(jìn)行測試即可。也可能過渡過程中間過程為平直線均為50.0Ω，也是超量程所至，則也只需改變量程為30Ω即可。

3、當(dāng)進(jìn)行無繞組測量，沒有變壓器繞組的分布參數(shù)影響，波形會比較接近理論波形，當(dāng)用戶所測波形曲線不平直時(shí)，多數(shù)情況為機(jī)械傳動原因，并不是開關(guān)或儀器測試有問題。如出現(xiàn)斷點(diǎn)，斷點(diǎn)處波形回到底部，則要謹(jǐn)慎對待。

4、有時(shí)在開關(guān)切換時(shí)有瞬間斷點(diǎn)，這時(shí)波形即被壓成一條近似平直的直線，這種情況是本儀器處理所致。當(dāng)移動光標(biāo)2讀三相波形曲線各點(diǎn)時(shí)，同樣能看到切換各時(shí)段電阻的變化，但這種情況重新測試。 當(dāng)波形出現(xiàn)異常的下跳點(diǎn)并且持續(xù)時(shí)間在2ms以上時(shí)，應(yīng)檢查該處的電阻值，如果電阻值超過50Ω，很可能存在接觸不良或有松動處，這時(shí)，應(yīng)反復(fù)進(jìn)行多次測試，以便判斷。